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关于对《车规级AI芯片电性参数测试方法》、《晶圆级芯片晶粒缺陷自动光学检测技术规范》团体标准征求意见的函

更新时间:2026-08-24 17:25:20

各有关单位及专家:

    根据《团体标准管理规定》(国标委联〔2019〕1号)、《浙江省半导体行业协会团体标准管理》有关规定,由我协会组织制定,杭州朗迅科技股份有限公司等作为主要起草单位的《车规级AI芯片电性参数测试方法》团体标准、由浙江机电职业技术大学等作为主要起草单位的《晶圆级芯片晶粒缺陷自动光学检测技术规范》团体标准已经完成征求意见稿,现公开征求意见,诚邀各相关单位及个人对其提出宝贵意见和建议,并于2026年9月23日前将修改意见和建议反馈到本协会。

    回函单位:浙江省半导体行业协会

    回函地址:杭州市滨江区月明路567号医惠中心B座606

    联系人:赵燕明

    联系电话:18324435116 

    邮箱:446259781@qq.com

 

 

    附件:

    1、《车规级AI芯片电性参数测试方法(征求意见稿)》团体标准

    2、《晶圆级芯片晶粒缺陷自动光学检测技术规范(征求意见稿)》团体标准

    3、《车规级AI芯片电性参数测试方法(征求意见稿)》团体标准编制说明

    4、《晶圆级芯片晶粒缺陷自动光学检测技术规范(征求意见稿)》团体标准编制说明

    5、《车规级AI芯片电性参数测试方法(征求意见稿)》团体标准征求意见表

    6、《晶圆级芯片晶粒缺陷自动光学检测技术规范(征求意见稿)》团体标准征求意见表

 

                       

 

浙江省半导体行业协会

                             2026年8月24日

文件下载

关于对《车规级AI芯片电性参数测试方法》、《晶圆级芯片晶粒缺陷自动光学检测技术规范》团体标准征求意见的函.pdf
附件1《车规级AI芯片电性参数测试方法(征求意见稿)》团体标准.pdf
附件2《晶圆级芯片晶粒缺陷自动光学检测技术规范(征求意见稿)》团体标准.pdf
附件3《车规级AI芯片电性参数测试方法(征求意见稿)》编制说明.pdf
附件4《晶圆级芯片晶粒缺陷自动光学检测技术规范(征求意见稿)》编制说明.pdf
附件5《车规级AI芯片电性参数测试方法》团体标准征求意见表.doc
附件6《晶圆级芯片晶粒缺陷自动光学检测技术规范》团体标准征求意见表.doc
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