更新时间:2026-08-24 17:25:20
各有关单位及专家:
根据《团体标准管理规定》(国标委联〔2019〕1号)、《浙江省半导体行业协会团体标准管理》有关规定,由我协会组织制定,杭州朗迅科技股份有限公司等作为主要起草单位的《车规级AI芯片电性参数测试方法》团体标准、由浙江机电职业技术大学等作为主要起草单位的《晶圆级芯片晶粒缺陷自动光学检测技术规范》团体标准已经完成征求意见稿,现公开征求意见,诚邀各相关单位及个人对其提出宝贵意见和建议,并于2026年9月23日前将修改意见和建议反馈到本协会。
回函单位:浙江省半导体行业协会
回函地址:杭州市滨江区月明路567号医惠中心B座606
联系人:赵燕明
联系电话:18324435116
邮箱:446259781@qq.com
附件:
1、《车规级AI芯片电性参数测试方法(征求意见稿)》团体标准
2、《晶圆级芯片晶粒缺陷自动光学检测技术规范(征求意见稿)》团体标准
3、《车规级AI芯片电性参数测试方法(征求意见稿)》团体标准编制说明
4、《晶圆级芯片晶粒缺陷自动光学检测技术规范(征求意见稿)》团体标准编制说明
5、《车规级AI芯片电性参数测试方法(征求意见稿)》团体标准征求意见表
6、《晶圆级芯片晶粒缺陷自动光学检测技术规范(征求意见稿)》团体标准征求意见表
浙江省半导体行业协会
2026年8月24日
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